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About Us
製造された集積回路が正常に動作するか否かを調べるテストは、その集積回路が応用されるシステムの信頼性にとってきわめて重要な役割になります。また、集積化路の大規模化・微細化により、集積回路におけるテストに関する問題も複雑になっています。
私たちの研究室グループ、梶原研・温研・宮瀬研・Holst研は、集積回路の高信頼化を目的として、集積回路のテスト、テスト容易化設計、および故障診断に関する研究を行っています。
→詳しくはResearchをご覧ください。
News
・LSIテスト研究室グループが研究棟6階東に引越し(R4.6)
・令和4年度のLSIテスト研究室グループのB4学生配属(R4.4)
-梶原研4名、温研4名、宮瀬研4名、Holst研3名
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last update 2022.3.24
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