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実施中

♦令和3～令和6年度　日本学術振興会　科学研究費助成事業　基盤研究(B)
「高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究」

♦令和3～令和5年度　日本学術振興会　科学研究費助成事業　基盤研究(C)
「論理ＬＳＩの機能安全に向けたコンカレントエラーディテクションに関する研究」

♦令和3年度　台湾科技大との共同研究
「Built-in Self-Test (BIST) for Digital-to-Time Converter (DTC)」

♦令和3年度　民間等との共同研究
「機能安全に適した耐故障設計のためのコンカレント論理BIST等に関する研究」

♦2020年04月～2022年03月　民間との共同研究
「ＤＡＲＴ技術のＦＰＧＡ適用に関する実用化検証」

♦2019年04月～2022年03月　日本学術振興会科学研究費助成事業若手研究
「VLSIにおける劣化影響を低減可能なデジタル温度電圧センサに関する研究」

♦平成30～令和3年度　日本学術振興会　科学研究費助成事業　基盤研究(B)（特設分野研究）
「フィールド運用中のアダプティブテストに基づくVLSIの予防安全」

♦令和2年度　台湾科技大との共同研究
「High Precision Digital-to-Time Converter Based on PLL Delay Matrix with Overclocking and Double Data Rate for IC Testing」

♦2017年04月～2019年03月　日本学術振興会科学研究費助成事業若手研究(B)
「小型で高速動作可能なデジタル温度電圧センサの開発」

♦平成29年度　民間との共同研究
「高速ハッシュ計算等を用いたブロックチェーン技術およびその応用に関する研究」

♦平成29年度　台湾科技大との共同研究
「Development of a self-observable test clock generator in FPGAs」

♦平成27～平成29年度　日本学術振興会　科学研究費助成事業　究費補助金挑戦的萌芽研究
「集積回路の製造テスト結果を利用した信頼性予測」

♦平成24～令和2年度　民間との共同研究
「データマイニングを活用したテスト最適化に関する研究」

♦平成23年度～令和元年度　民間との共同研究
「高信頼を目指すＬＳＩにおけるフィールド高信頼化技術の有効性を評価・検証する研究」

♦平成21～平成24　日本学術振興会　科学研究費　補助金: 基盤研究（B）
「VLSIの高品質フィールドテストに関する研究」

♦平成20年10/1～平成26年3/31（独）科学技術振興機構　戦略的創造研究推進事業 CREST
「フィールド高信頼化のための回路・システム機構」

♦知的クラスター創成事業（第Ⅱ期）
「半導体集積回路の高歩留り化プラットフォームの研究開発」

♦日本学術振興会　科学研究費補助金
「次世代LSIのための信号劣化回避型テスト方式に関する研究」（基盤研究（Ｃ））

♦民間との共同研究
「高精度電力・ノイズ考慮テスト生成技術の研究」

♦平成19年度知的クラスター創成事業（第Ⅱ期）
「半導体集積回路の高歩留り化プラットフォームの研究開発」

♦平成19年度地域新生コンソーシアム研究開発事業
「半導体集積回路の高信頼化に貢献する先端テスト技術の研究開発」

♦日本学術振興会　二国間交流事業　米国ウィスコンシン大学との共同研究
「自己検査・自己診断によるLSI高信頼化方式に関する研究」

♦受託研究（ＪＳＴ特定課題調査）
「フィールド高信頼化を実現する設計とテスト手法」

♦日本学術振興会　科学研究費補助金
「次世代LSIのための信号劣化回避型テスト方式に関する研究」（基盤研究（Ｃ））

♦民間との共同研究
「テスト時電力・ノイズ考慮テスト技術の研究」
「テストパターンの低消費電力化」

♦ＪＳＴ　プラザ福岡　育成研究課題
「次世代ＬＳＩテスト設計自動化システムの研究開発」

♦（財）九州産業技術センター　研究開発委託事業
「半導体集積回路の低消費電力テスト技術の研究開発」

♦日本学術振興会　二国間交流事業　米国ウィスコンシン大学との共同研究
「自己検査・自己診断によるLSI高信頼化方式に関する研究」

♦日本学術振興会　科学研究費補助金
「マルチフォールトモデルを対象としたLSIのテストに関する研究」（基盤研究（Ｃ））
「LSI歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究」（基盤研究（Ｃ））

♦民間との共同研究
「高品質高効率ディレイテスト手法の研究」
「テストパターンの低消費電力化」

♦ＪＳＴ　プラザ福岡　育成研究課題
「次世代ＬＳＩテスト設計自動化システムの研究開発」

♦日本学術振興会　二国間交流事業　米国デューク大学との共同研究
「システムオンチップに対するテスト・診断の効率化技法に関する研究」

♦民間との共同研究
「高品質ディレイテストパターン生成の研究」