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Technical Reports
  1. R. Ma, S. Holst, X. Wen, A. Yan, and H. Xu, "A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch Design," 電子情報通信学会技術研究報告, DC2020-71, pp. 12-17, 2021年2月5日.
  2. 高藤大輝, 星野龍, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司, "メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究," 電子情報通信学会技術研究報告, DC2020-72, pp. 18-23, 2021年2月5日.
  3. 大庭涼, 星野竜, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司, "LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究," 信学技報, Vol. 120, No. 236, DC2020-33, pp. 12-17, 2020年11月17日.
  4. 史傑, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司, "LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究," 信学技報, Vol. 119, No. 420, DC2019-94, pp. 49-54, 2020年2月26日.
  5. 児玉優也, 宮瀬紘平, 高藤大輝, 温暁青, 梶原誠司, "メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究," 信学技報, Vol. 119, No. 420, DC2019-93, pp. 43-48, 2020年2月26日.
  6. Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, and J. Qian, "Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption," 第11回LSIテストセミナー, 2019年3月14日.
  7. 河野雄大, 宮瀬紘平, 呂學坤, 温暁青, 梶原誠司, "LSIのホットスポット分布の解析に関する研究," 信学技報, Vol. 118, No. 456, DC2018-74, pp. 19-24, 2019年2月27日.
  8. S. Holst, E. Schneider, M. A. Kochte, X. Wen, and H.-J. Wunderlich, "Small Delay Fault Diagnosis on Compacted Responses," 第80回 FTC 研究会資料集, 2019年1月24日.
  9. S. Holst, R. Ma, and X. Wen, "The Impact of Production Defects on the Soft-Error Tolerance of Hardened Latches," 第17 回情報科学技術フォーラム, IC-003, 2018年9月21日.
  10. Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, and J. Qian, "Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption," 第17 回情報科学技術フォーラム, IC-002, 2018年9月21日.
  11. S. Holst, R. Ma, and X. Wen, "The Impact of Production Defects on the Soft-Error Tolerance of Hardened Latches," 第10回LSIテストセミナー, 2018年3月6日.
  12. 児玉優也，古賀千裕，宮瀬紘平，S.-K. Lu，温暁青，梶原誠司, "メモリ搭載LSIに対する消費電力エリア特定に関する研究," 第10回LSIテストセミナー, 2018年3月6日.
  13. 河野雄大, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司, "正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究," 信学技報, vol. 117, no. 444, DC2017-80, pp. 19-24, 2018年2月20日.
  14. Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, and J. Qian, "On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping," IEICE Tech. Rep., vol. 117, no. 274, DC2017-48, pp. 91-94, Nov. 7, 2017.
  15. 宮崎俊紀、温暁青、ホルスト シュテファン、宮瀬紘平 、梶原誠司, "高品質実速度スキャンテスト生成に関する研究," 第9回LSIテストセミナー, 2017年3月9日.
  16. 宮瀬紘平, 濱崎機一, ザウアー マティアス, ポリアン イリア, ベッカー ベルンド, 温暁青, 梶原誠司, "電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究," 信学技報, Vol. 116, No. 466, DC2016-75, pp. 7-10, 2017年2月21日.
  17. 三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司, 温暁青, "デジタル温度電圧センサにおける2点補正手法の検討," 第76回 FTC 研究会資料集, 2017年1月19日.
  18. 加藤隆明, 王森レイ, 佐藤康夫, 梶原誠司, 温暁青, "論理BISTにおけるスキャンイン電力 制御手法とTEG評価," 情報処理学会DAシンポジウム2016論文集，pp. 79-84, 2016年9月15日.
  19. 浅田浩嗣，温暁青，宮瀬紘平，ホルスト シュテファン, 梶原誠司, M. A. コッテ, E. シュナイダー, H.-J. ワンダーリッヒ, 銭軍, "実速度スキャンテスト生成におけるキャプチャ電力安全性保証及びクロックストレッチ削減について," 第8回LSIテストセミナー, 2016年3月2日.
  20. 李富強，温暁青，ホルスト シュテファン，宮瀬紘平，梶原誠司, "論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について," 電子情報通信学会技術研究報告, DC2015-87, pp. 7-12, 2016年2月17日.
  21. 浅田浩嗣, 温暁青, 宮瀬紘平, ホルスト シュテファン, 梶原誠司, M. A. コッテ, E. シュナイダー, H.-J. ワンダーリッヒ, 銭軍, "実速度スキャンテスト生成におけるキャプチャ電力安全性保証及びクロックストレッチ削減に関する研究," 第74回 FTC 研究会資料集, 2016年1月22日.
  22. 宮瀬紘平, ザウアー マティウス, ベッカー ベルンド, 温暁青, "レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究," 電子情報通信学会技術研究報告, DC2015-18, pp. 13-18, 2015年6月16日.
  23. J. Miyazaki, S. Holst, and X. Wen, "Memory-Aware Logic Simulation Algorithms," 第７回LSIテストセミナー, 2015年3月18日.
  24. 李富強, 温暁青, 宮瀬紘平, ホルスト シュテファン, 梶原誠司, "低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法," 電子情報通信学会技術研究報告, DC, ディペンダブルコンピューティング, Vol. 114, No. 99, pp. 15-20, 2014年6月20日.
  25. F. Li, K. Miyase, S. Holst, and X. Wen, "Study on X-Filling of Test Pattern for Low-Power Test," 2014 International Symposium on Dependable Integrated Systems, IIzuka, Japan, Mar.10, 2014.
  26. J. Li, W-S. Ding, H-Y. Hsieh, and X. Wen, "Test Pattern Modification for Average IR-drop Reduction," Poster at Intl. Test Conf., Anaheim, USA, Sept.10, 2013.
  27. 富田明宏, 温暁青, 宮瀬紘平, 梶原誠司, "ロジックBISTのキャプチャ電力安全性に関する研究," 第68回 FTC 研究会資料集, 2013年1月11日.
  28. 宮瀬紘平, 梶原誠司, 温暁青, "ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究," 電子情報通信学会技術研究報告, VLD2012-104, pp. 261-266, 2012年11月28日.
  29. 田中広彬, 宮瀬紘平, 榎元和成, 温暁青, 梶原誠司, "パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法," 信学技報, Vol. 111, No. 435, DC2011-78, pp. 13-18, 2012年2月13日.
  30. 西田優一郎, 温暁青, 工藤雅幸, 宮瀬紘平, 梶原誠司, "実速度スキャンテストにおける高品質なキャプチャ安全性保障型テスト生成について," 第66回 FTC 研究会資料集, 2012年1月21日.
  31. S. Wang, S. Kajihara, Y. Sato, K. Miyase, and X. Wen, "New Test Partition Approach for Rotating Test with Lower Rate," 第66回 FTC 研究会資料集, 2012年1月19日.
  32. 宮瀬紘平, 内之段裕太, 榎元和成, 大和勇太, 温暁青, F. Wu, L. Dilillo, A. Bosio, P. Girard, A. Virazel, 梶原誠司, "テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト," 電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング, Vol. 111, No. 100, pp. 29-34, 2011年6月17日.
  33. 坂井僚太, 宮瀬紘平, 温暁青, 麻生正雄, 古川寛, 大和勇太, 梶原誠司, "実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定," 電子情報通信学会技術研究報告, DC2010-60, pp. 7-12, 2011年2月14日.
  34. 河野潤, 宮瀬紘平, 榎元和成, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司, "実速度テストにおける品質考慮ドントケア判定手法," 第64回 FTC 研究会資料集, 2011年1月21日.
  35. 武田敏秀, 井上俊介, 大野国弘, 温暁青, "知識ベースシステムに基づいたLSIテスト不良原因解析について," 情報処理学会研究報告, 110(316), 113-118, 2010年11月29日.
  36. S. Wang, S. Kajihara, Y. Sato, K. Miyase, and X. Wen, "Rotating Test and Pattern Partitioning for Field Test," 情報処理学会研究報告, Vol.2010-SLDM-147, No.8, 2010年11月27日.
  37. 広実一輝，梶原誠司，佐藤康夫，宮瀬紘平，温暁青, "フィールドテストにおける巡回テストとテスト集合印加順序について," 第62回 FTC 研究会資料集, 2010年1月21日.
  38. 奥慎治，梶原誠司，佐藤康夫，宮瀬紘平，温暁青, "3値テストパターンに対する遅延テスト品質評価とX割当について," 電子情報通信学会技術研究報告, DC2009-73, pp. 51-56, 東京, 2009.
  39. 宮瀬紘平、中村優介、大和勇太、温暁青、梶原誠司, "部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化," 電子情報通信学会技術研究報告, DC2009-76, pp. 69-74, 東京, 2009.
  40. 野田光政，梶原誠司，佐藤康夫，宮瀬紘平，温 暁青，三浦幸也, "劣化検知テストにおけるパス選択について," 電子情報通信学会技術研究報告, VLD2009-65, pp. 167-172, 高知市，Dec.4, 2009.
  41. 別府厳, 宮瀬紘平, 大和勇太, 温暁青, 梶原誠司, "信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究," 電子情報通信学会技術研究報告, VLD2009-55, pp. 95-100, Dec. 2009.
  42. 榎元和成, 温暁青, 宮瀬紘平, 大和勇太, 曽根洋晃, 梶原誠司, 麻生正雄, 古川寛, "実速度スキャンテストにおけるクリティカルエリア特化型IR-Drop削減手法," 平成21年度 電気関係学会九州支部連合大会予稿集，06_2P_03, 2009年9月22日.
  43. 宮瀬紘平, 大和勇太, 埜田健治, 伊藤秀昭, 畠山一実, 相京隆, 温暁青, 梶原誠司, "ブロードキャストスキャン圧縮環境下における実速度テストに対するIR-Drop削減Post-ATPG手法," 第61回 FTC 研究会資料集, 2009年7月16日-18日.
  44. 温 暁青, "先端LSI回路向け低消費電力テスト技術の研究開発," 福岡・長野クラスターマッチングフォーラム 2009，2009年6月18日.
  45. 野田光政, 梶原誠司, 温暁青, 宮瀬紘平, 佐藤康夫, "論理回路における劣化故障の発生しやすい箇所の推定について," 第60回 FTC 研究会資料集，2009年1月.
  46. 高嶋敦之, 大和勇太, 古川寛, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司, "実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について," 電子情報通信学会技術研究報告, DC2008-30(VLD2008-62), pp. 13-18, Nov. 2008.
  47. 奥慎治, 梶原誠司, 宮瀬紘平, 温暁青, 佐藤康夫, "3値論理シミュレーションにおける遅延計算について," 第59回 FTC 研究会資料集，2008年7月.
  48. 新田和彦，宮瀬紘平，大和勇太，古川寛，温暁青，梶原誠司，埜田健治，伊藤秀昭，畠山一実，相京隆, "実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時消費電力削減手法," 第58回 FTC 研究会資料集，2008年1月.
  49. 福澤友晶，宮瀬紘平，大和勇太，古川寛，温暁青，梶原誠司, "実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について," IEICE Technical Report, VLD2007-71, pp. 7-12, 2007年11月20日.
  50. 大谷雅志, 温暁青, 大和勇太, 宮瀬紘平, 梶原誠司, "Per-Test X故障診断手法の 診断分解能向上に関する研究", LSIテスティイングシンポジウム2007会議録, pp. 239‐244, 2007年11月8日.
  51. T. Fukuzawa, K. Miyase, Y. Yamato, H. Furukawa, X. Wen, and S. Kajihara, "A Transition Delay Test Generation Method for Capture Power Reduction during At-Speed Scan Testing," The 7th International Workshop on Microelectronics Assembling and Packaging & Reverse Trade Show, pp. 103-108, 2007年10月11日.
  52. 中村優介，大和勇太，温暁青，宮瀬紘平，梶原誠司，K.K　サルージャ, "LSI回路のX故障によるPer-Test故障診断手法の拡張について," IEICE Technical Report, R2007-33, pp. 23-28, 2007年9月14日.
  53. 森島翔平, 山本真裕, 梶原誠司, 温 暁青, 福永昌勉, 畠山一実, 相京隆, "遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について," IEICE technical report, Dependable Computing, Vol.106, No.528, pp. 25-30, 2007年2月.
  54. 藤井秀雄，谷口謙二郎，梶原誠司，温暁青, "順序回路用故障シミュレーションにおけるコンパイル方式の適用と効果について," 情報処理学会DAシンポジウム2007論文集，pp. 103-108, 2007年2月.
  55. 塔ノ上義章, 温暁青, 梶原誠司, 宮瀬紘平, 鈴木達也, 大和勇太, "低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について," 電子情報通信学会技術研究報告, VLD2005-81，pp.109-114, 2007年1月.
  56. 山本真裕，森島翔平，梶原誠司，温暁青，福永昌勉，畠山一実，相京隆, "遅延テスト品質の正確な評価法とテスト生成への応用," 第56回 FTC 研究会資料集，2007年1月.
  57. 谷口謙二郎，宮瀬紘平，梶原誠司，温暁青, "ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定," 電子情報通信学会技術研究報告, VLD2005-81，pp.55-60, 2006年12月.
  58. Y. Yamato, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, K. Saluja, and K. Kinoshita, "A New Per-Test X-Fault Diagnosis for Deep-Submicron LSI Circuits," LSIテスティイングシンポジウム2006会議録, pp. 193-198, 2006年11月.
  59. 藤井秀雄，谷口謙二郎，梶原誠司，温暁青, "コンパイル方式とイベント駆動方式を用いた故障シミュレーションの高速化について," 第55回 FTC 研究会資料集，2006年7月.
  60. 谷口謙二郎，宮瀬 紘平，梶原誠司，温暁青, "フルスキャン順序回路用2パターンテストに対するドントケア判定," 情報処理学会DAシンポジウム2006論文集，pp. 103-108, 2006年7月.
  61. 森島翔平，詫間茜，梶原誠司，温暁青，前田敏行，浜田周治，佐藤康夫, "ブロードサイド方式におけるパス長を考慮した遷移故障用テストパターン生成について," 電子情報通信学会技術研究報告, VLD2005-81，pp.55-60, 2005年12月.
  62. 鈴木達也，温暁青，梶原誠司，宮瀬 紘平，皆本 義弘, "スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について," 電子情報通信学会技術研究報告, VLD2005-76，pp.1-6, 2005年12月.
  63. 豊田直哉，梶原誠司，温暁青，真田克, "故障診断のための観測性の定量化について," LSIテスティイングシンポジウム2004会議録, pp. 223-228, 2005年11月.
  64. X. Wen, T. Suzuki, and S. Kajihara, "Low-Capture-Power Test Generation for Scan Testing," COE workshop for SoC Design Technology and Automation, 2005年9月.
  65. 寺島健太，梶原誠司，温暁青，宮瀬 紘平, "縮退故障用テストパターンのブリッジ故障検出率向上手法について," 情報処理学会DAシンポジウム2005論文集，pp. 67-72, 2005年8月.
  66. 幸山 和憲, 梶原 誠司, 温 暁青, "SoCにおけるブロードキャストスキャンテスト効率化手法について," 第53回 FTC 研究会資料集，2005年7月.
  67. 大和 勇太，温 暁青，梶原 誠司, "X故障モデルに対する故障シミュレーションの効率化について," 第53回 FTC 研究会資料集，2005年7月.
  68. 梶原誠司，福永昌勉，温暁青，前田敏行，浜田周二，佐藤康夫, "超微細ＬＳＩのパス遅延故障に対するテスト圧縮法について," 電子情報通信学会技術研究報告, DC2004-107，pp. 93-98, 2005年2月.
  69. 豊田直哉，梶原誠司，温暁青，真田克, "故障診断のための観測性の定量化について," 電子情報通信学会技術研究報告,ICD2004-212，pp. 31-34, 2005年1月.
  70. 山下善之，温暁青，梶原誠司，Laung-Terng Wang, Kewal K. Saluja, 樹下行三, "スキャンテストにおけるキャプチャ時の消費電力削減を考慮したテスト生成," 第52回 FTC 研究会資料集，2005年1月.
  71. 土井康稔，梶原誠司，温暁青，Lei Li，Krishnendu Chakrabarty, "スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮," 電子情報通信学会技術研究報告, VLD2004-78，pp.103-108, 2004年12月.
  72. 宮瀬 紘平，永山 忍，梶原 誠司，温 暁青，Sudhakar M. Reddy, "入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出," 電子情報通信学会技術研究報告, VLD2004-77，pp.97-102, 2004年12月.
  73. 村上道郎、温暁青, "圧縮化スキャンパタン生成技術," SEMI Technology Synposium，3-14~3-18, 2004年12月1~3日.
  74. 三好勅元，温暁青，梶原誠司, "X故障モデルを用いたPer-Test故障診断手法に関する研究," LSIテスティイングシンポジウム2004会議録, pp. 223-228, 2004年11月.
  75. 三好勅元，温暁青，梶原誠司, "X故障モデルを用いたPer-Test故障診断手法について," 情報処理学会DAシンポジウム2004論文集，pp. 61-66, 2004年7月.
  76. 山下善之，梶原誠司，温暁青，三浦幸也, "トランジスタ動作を考慮したデジタル回路のテストと解析," 第51回 FTC 研究会資料集，2004年7月.
  77. 温暁青, "集積回路のテストとテスト容易化設計　〜現状と課題〜," NECエレクトロン技術交流研究会, 2004年4月.
  78. 温暁青, "集積回路のテストとテスト容易化設計　〜現状と課題〜," 東京エレクトロン技術交流研究会, 2004年3月.
  79. 温暁青, "テストコスト削減の一手法と実チップへの適用結果について," 半導体集積回路の検証とテストに関する研究会, 2004年3月.
  80. X. Wen, "SoC Test Challenges and Solutions from SynTest," 半導体製造技術Forum 2002, 2002年10月.
  81. X. Wen and L.-T. Wang, "At-Speed Logic BIST for Multi-Clock Multi-Frequency Designs," CRC Seminar, Stanford University, June 19 2002.
  82. X. Wen, "DFT Strategy and Trend in the SoC Era," International Micro-Electronics Forum 2001, 2001年5月.
  83. 本澤道，温暁青，玉本英夫，Kewal K. Saluja, 樹下行三, "CMOS回路の診断容易化設計," 平成10年度第2回情報処理学会東北支部研究会資料集，1998年11月.
  84. 佐藤忠司，温 暁青，横山洋之，玉本英夫, "CMOS 回路のトランジスタ短絡故障診断について," 平成9年度第2回情報処理学会東北支部研究会資料集，1997年11月.
  85. 温暁青，玉本英夫，Kewal K. Saluja, 樹下行三, "Equivalence Fault Collapsing for Transistor Short Faults," 信学技報, FTCS-40, pp. 41-48, 1997年8月.
  86. 温暁青，玉本英夫，Kewal K. Saluja, 樹下行三, "CMOS回路のトランジスタ短絡故障の一診断法," 第37回 FTC 研究会資料集，1997年7月.
  87. 澤村誉，温暁青，玉本英夫, "トランジスタリーク故障の等価故障解析," 平成８年度第２回情報処理学会東北支部研究会資料集，1996年11月.
  88. 児玉拓，温暁青，横山洋之，玉本英夫, "CMOS回路における最大変化ゲート数評価の一手法," 平成8年度第2回情報処理学会東北支部研究会資料集，1996年11月.
  89. 村上央，温暁青，横山洋之，玉本英夫, "ブリッジ故障のIDDQテスト用ベクトルの選択について," 信学技報，FTCS-40, pp. 49-56, 1996年8月.
  90. 横山洋之，温暁青，玉本英夫, "部分２重化による論理回路のランダムテスト容易化," 信学技報，FTCS-40, pp. 41-48, 1996年8月.
  91. 温暁青，玉本英夫，樹下行三, "等価故障解析に基づく電流テスト用ベクトル選択手法について," 第３３回 FTC 研究会資料集，1995年7月.
  92. 横山洋之，竹内和樹，温暁青，玉本英夫, "遺伝的アルゴリズムを用いたランダムテスト法," 第３２回 FTC 研究会資料集，1995年1月.
  93. 温暁青，玉本英夫，樹下行三, "Efficient Guided-Probe Fault Location Method for Sequential Circuits," 平成5年度第2回情報処理学会東北支部研究会資料集，1993年11月.
  94. 温暁青, "Efficient Guided-Probe Fault Location Method for Sequential Circuits," 第２回DTC研究会資料集，1993年10月.
  95. 温暁青，玉本英夫，樹下行三, "全可観測な環境での論理回路のテスト容易化設計について," 信学技報，Vol. 93, No. 108, pp. 79-86, 1993年3月.
  96. 温暁青，樹下行三, "全可観測な環境でのスキャンパスを有する順序回路の故障検査について," 情処研報，Vol. 91, No. 35, 57-6, 1991年5月.
  97. 温暁青，樹下行三, "全可観測な環境での順序回路の故障検査について," 情処研報，Vol. 90, No. 81, pp. 9-16, 1990年10月.
  98. 樹下行三，温暁青，スダーカ　Ｍ．レディ, "全可観測な環境での NAND 論理回路の故障診断," 信学技報，Vol. 88, No. 456, pp. 41-48, 1989年2月.
  99. 樹下行三，温暁青，スダーカ　Ｍ．レディ, "全可観測な環境での NAND 論理回路の故障診断," 第20回 FTC 研究会資料集，1989年1月.
  100. 梶原誠司，温暁青，板崎徳禎，樹下行三, "可観測な環境でのテストパターン生成について," 情処研報，DT-44, pp. 35-42, 1988年 10月.