高品質無線通信研究部門
次世代無線通信技術、4k画像のセキュアワイヤレス伝送技術

現在、次世代ブロードバンドワイヤレス通信インフラとして注目されているメッシュネットワークを利用する将来のユビキタス社会においては、4k画像の伝送・配信が、ホームシアタ、TV会議、医療機関などで場所と時間を問わず自由に利用できることが望まれています。しかしながら、現状のワイヤレス通信インフラでは、1Gps以上の伝送レートを必要とする4k画像を安全・安心・高信頼にワイヤレス伝送することは、技術的に困難であります。「家庭でも手軽に映画館を。」を目標に、本研究では、ワイヤレス・メッシュネットワークでの配信に適した4k画像ワイヤレス伝送システムの開発を行なっています。開発しているシステムは、複数のアンテナを用いて複数端末に同時に伝送可能な技術を用いることで、最高で7Gbpsを超える伝送レートを有する世界最高速MIMO無線LANシステムです。我々の部門では、このシステムを応用することでより安全・安心・高信頼な通信技術の開発やLSI設計を行っています。

高性能LSI研究部門
超低電力・耐ばらつきメモリ設計技術の開発、経年素子劣化を考慮するアナログ回路設計技術の開発

自動車やロボットを駆動するパワーICや、各種センサーチップでは、厳しい利用環境、特に広い周囲温度(-40℃〜125℃）と長い耐用年数（〜20年）において、その動作安定性を如何に確保するかが大きな課題となっています。本研究部門では、環境温度の変動や、素子ばらつき、素子の経年劣化等の微細半導体素子特有の技術課題を克服して、高い信頼性の確保を実現する新しいメモリ回路および、アナログLSI設計手法の研究を行なっています。これまでに、素子ばらつきと素子劣化現象を取りこんだ回路シミュレータの開発と、素子ばらつきと素子劣化に耐性をもつ数々の回路の研究を行ってきました。特にメモリ回路の研究において、従来のマージン確保設計からマージンフリー設計への設計思想の転換から生まれたレシオレスSRAM技術は、素子ばらつきが桁違いに大きくなると予想される今後の微細素子におけるオンチップメモリ回路の主流となりうるものとして大きく期待されています。

高信頼LSI研究部門
超低電力LSIのための電力安全性保障型テスト技術の開発、フィールド高信頼化のための回路・システム技術の開発

安全・安心な情報化社会を実現するために、その基盤であるLSI回路の高信頼化が必要不可欠です。そのために、製造されたLSI回路に機能障害の元となる製造欠陥の有無を調べるLSIテスト技術が極めて重要です。数千万もの論理素子から構成され数GHzもの高い周波数で動作するLSI回路に対しても数十秒以内に精確なテストを完了させなければならないため、極めて高度なLSIテスト技術が求められています。本研究部門は、高精度遅延故障テスト生成技術、テスト圧縮技術、低電力LSIのための電力安全性保障型テスト技術等の開発を行っており、世界トップレベルの成果を挙げています。また、自動車、航空宇宙、医療機器、ネットワーク等のミッションクリティカルなシステムに使われるLSIの経年劣化による信頼性低下問題を根本的に解決するため、使用環境の温度などに影響されない高精度パス遅延測定に基づく劣化検知及び対応技術の開発を行っており、その研究成果のIP化による実用化活動をも展開しています。